YYVIP易游第五章X射线衍射仪介绍doc

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　　X射线衍射(XRD)是所有物质,包括从流体、粉末到完整晶体,最重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。我们的解决方案所涵盖的领域包括:

　　[D8 ADVANCE 系列衍射仪] [D8 DISCOVER高分辨率衍射仪] [D8 GADDS面探测器衍射仪] [D8 DISCOVER 组合化学衍射仪] [D4 过程控制衍射仪] [“纳米星”NANOSTAR小角散射系统] [附件] [XRD软件]

　　我们的波长色散X射线光谱仪(也称:光谱仪解决方案)确保非破坏性、无环境污染、安全的多元素分析。

　　D8 DISCOVER衍射仪系列中的GADDS系统以其独特的二维面探测器技术

　　随着应用领域的不同,薄膜和涂层的性能也不一样。但是请注意:X射线衍射是探

　　测它们的有力工具。对所有分析方法,通常的要求是入射角必须高度精确。通常来

　　说薄膜的衍射信息很弱,因此需采用一些先进的X射线光学组件和探测器技术。

　　工件、矿物、陶瓷、聚合物等材料的微观结构,如择优取向(织构)或晶体点阵畸变(残余应力)等,与材料的宏观性能是密切相关的。因此,测定产品(例如:涡轮叶片、燃烧发动机阀门等)的织构和应力可反应产品的性能。

　　X射线衍射技术广泛的应用于生产过程中的质量控制。最新的X射线光学器件和探测技术的应用大大提高了数据质量,并加快了测量速度。

　　通常材料的性能随温度、压力、气氛、湿度等的变化而变化。用X射线衍射仪研究这些变化时,可将样品放置于特殊样品室中,该样品室的窗口对X光具有良好的通透性,其控制参数的设定及自动检查完全由DIFFRACplus 软件完成。

　　微量样品和试样的微小区域分析具有一个共同的特点:其X射线衍射强度极低;一般仅有少数几个晶粒对散射有贡献,而且,还会引起得拜环(Debye rings)的不连贯,即得拜环为一些不连贯的衍射斑点。二维探测器可探测到不均匀衍射斑或整个得拜环,沿得拜环对强度数据进行积分可有效地修正这些因素的影响,获得精确的衍射图象,从而为进一步的分析提供准确的数据。

　　小角散射研究大结构,需要高强度、低发散度的点光源。为了在透射光束附近观察到试样的